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Hisilicon半导体光电检测设备隔振方案

作者:至一科技 日期:2021-01-02 点击:508
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Hisilicon半导体光电检测设备隔振方案

SOTOMD300-M被动隔振系统


背景:半导体光电测试应用

使用单位:深圳市海思半导体有限公司

地点:广东省深圳市龙岗区坂田华为基地F区

设备:Hisilicon半导体光电检测设备

隔振方案:SOTOMD300-M


半导体隔振系统.jpgSOTOMD被动隔振系统.jpg
海思半导体设备SOTOMD隔振台.jpg
Hisilicon半导体光电检测设备SOTOMD300-M被动隔振系统安装应用图


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